1. Ellipsometry of functional organic surfaces and films

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)

موضوع : ، Ellipsometry,، Physics,، Surface and Interface Science, Thin Films,، Surfaces and Interfaces, Thin Films,، Physical Chemistry,، Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices,، Characterization and Evaluation of Materials

رده :
QC443

2. Handbook of Composites

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع : Surfaces (Physics). ; Materials Science. ; Characterization and Evaluation of Materials. ;

3. Optical Measurement of Surface Topography

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع : Microwaves. ; Surfaces (Physics). ; Materials Science. ; Characterization and Evaluation of Materials. ; Microwaves, RF and Optical Engineering. ; Measurement Science and Instrumentation. ; Surfaces and Interfaces, Thin Films. ;

4. Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع : Engineering. ; Nanotechnology. ; Surfaces (Physics). ; Materials Science. ; Nanotechnology. ; Characterization and Evaluation of Materials. ; Surfaces and Interfaces, Thin Films. ; Nanotechnology and Microengineering. ; Condensed Matter Physics. ; Biophys

5. Shell-like structure non-classical theories and applications

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)

موضوع : ، Shells )Engineering(,، Shells )Engineering(, Materials,، Computer science,، Materials,، Surfaces )Physics(,، Materials Science,، Characterization and Evaluation of Materials,، Continuum Mechanics and Mechanics of Materials,، Computational Science and Engineering

رده :
TA
660
.
S5
S44
2011